Current and Future Possibilities of XES and XAFS in the Laboratory
- Datum: 19 november 2020, kl. 14.15–15.00
- Plats: https://uu-se.zoom.us/j/68099882671
- Typ: Seminarium
- Föreläsare: Birgit Kanngiesser (TU Berlin)
- Arrangör: Olle Björneholm
Centrum för fotonvetenskap vid Uppsala universitet bjuder in till en seminarieserie över zoom på några vetenskapliga möjligheter med röntgenbilder presenterade av ledande forskare.
X-ray Emission (XES) och Absorption Fine Structure Spectroscopy (XAFS) är väletablerade metoder vid synkrotronanläggningar där det används rutinmässigt inom olika typer av forskningsområden. För att öka dess tillgänglighet på en daglig basis utvecklade vi XES- och XAFS-spektrometrar för laboratoriet. Undersökningarna underlättas med polykromatisk strålning i motsats till de flesta XES- och XAFS-experiment vid synkrotronkällor.
Den första typen av XES- och XAFS-laboratoriespektrometer är tillägnad den hårda röntgenregimen för undersökning av huvudsakligen 3d-övergångsmetallers K-absorptionskanter. På grund av användningen av Highly Annealed Pyrolithic Graphite (HAPG) som våglängdsdispersivt element har rimliga mättider med tillräcklig spektral upplösningsförmåga för båda metoderna blivit möjliga [1], [2]. En andra typ av XAFS-laboratoriespektrometer arbetar med mjukröntgen. Med denna inställning är NEXAFS K-kantspektroskopi av huvudbeståndsdelarna i biologiska prover som C, O och N genomförbar. Men även L-kanterna på alla övergångsmetaller är tillgängliga [3]. Genom att använda den pulsade strukturen hos dess laserplasmakälla blir dynamiska XAFS-undersökningar dessutom möjliga. Vi har redan utfört engångs (1 ns) NEXAFS-spektroskopi vid C K-kanten av Cu Chlorophyllin. Detta banade väg för första pump-sond-experiment.
Föredraget kommer att presentera en översikt över nuvarande möjligheter för laboratorieundersökningar av XES och XAFS samt perspektiv för framtiden.
Referenser
[1] C. Schlesiger, L. Anklamm, H. Stiel, W. Malzer, B. Kanngießer, J. Anal. På. Spectrum. 30, 1080-1085, (2015).
[2] W. Malzer, D. Grötzsch, R. Gnewkow, Ch. Schlesiger, F. Kowalewski, B. Van Kuiken, S. DeBeer, B. Kanngießer, Review of Scientific Instruments 89, (2018)
[3] I. Mantouvalou, K. Witte, W. Martyanov, A. Jonas, D. Grötzsch, C. Streeck, H. Löchel, I. Rudolph, A. Erko, H. Stiel, B. Kanngießer, Appl. Phys. Lett. 108, 201106 (2016).
[4] A. Jonas, H. Stiel, L. Glöggler, D. Dahm, K. Dammer, B. Kanngießer, I. Mantouvalou, Optics Express, Vol. 27, nummer 25, s. 36524-36537, (2019)
