Transmissionselektronmikroskopi (TEM)
Kursplan, D-nivå, 1TG801
Kursen är avvecklad.
- Kod
- 1TG801
- Nivå
- D
- Ämne(n)
- Teknik
- Betygsskala
- Med beröm godkänd (5), Icke utan beröm godkänd (4), Godkänd (3), Underkänd (U)
- Fastställd av
- Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden, 17 december 1999
- Ansvarig institution
- Institutionen för teknikvetenskaper
Behörighetskrav
120 poäng inom teknisk/naturvetenskaplig högskoleutbildning varav kunskaper motsvarande kursen Fasta tillståndets fysik I.
Syfte
Kursen skall ge grundläggande kunskap om analytisk
transmissionselektronmikroskopi (TEM). Materialet
omfattar avbildning, diffraktion, analys, svep-TEM
inklusive avbildning med HAADF (High Angle Annular
Dark Field) och dessutom utvärdering och tolkning
av erhållna data. Metoderna används inom både den
akademiska och den industriella världen.
Tillämpningsområden ökar ständigt bl.a. beroende på
att våra material och strukturer blir alltmer
avancerade. TEM ger unik information om lokal
struktur och sammansättning med atomär upplösning.
Det är också möjligt att direkt korrelera struktur
till egenskaper. Det är viktigt att förstå vad som
kan undersökas med TEM samt hur olika signaler
uppstår och hur analysvillkoren kan optimeras.
Detta berörs i kursen. Dessutom behandlas
upplösningsgränserna för de olika analysmetoderna.
Eleverna skall efter kursen kunna avgöra när
analytisk TEM kan ge önskad information samt kunna
utföra analyser och utvärderingar.
Innehåll
Kursen omfattar både teori och praktiska aspekter
av analytisk TEM inklusive energidispersiv
röntgenanalys (EDX) och
elektronenergiförlustspektroskopi (EELS).
Ett analytiskt TEM kan användas i olika moder och
eleverna kommer att få använda dem under
laborationer.
Den första delen av kursen behandlar
elektronoptik och principerna för avbildning.
Därefter kommer växelverkan mellan högenergetiska
elektroner och materia.
Den andra delen av kursen ger grunderna för
högupplösande TEM, elektrondiffraktion, EDX, EELS
och HAADF och exemplifierar resultat från dessa
metoder. Speciell betoning ges åt
upplösningsgränserna och vad som avgör dem.
Kursen omfattar fem laborationer vid TEM:
- 1. TEM- uppbyggnad, grundläggande principer för avbildning
- 2. ”Selected Area”-diffraktion
- 3. Konvergenstrålediffraktion (CBED)
- 4. Avbildning, kontrastfenomen
- 5. EDX
Undervisning
Lektioner och laborationer.
Examination
Kursen examineras genom skriftlig tentamen.
Dessutom krävs att alla laborationer är godkända.