Kursplan för Ytavbildning

Surface Characterisation

Kursplan

  • 5 högskolepoäng
  • Kurskod: 1TM144
  • Utbildningsnivå: Grundnivå
  • Huvudområde(n) och successiv fördjupning: Kemi G2F, Teknik G2F

    Förklaring av koder

    Koden visar kursens utbildningsnivå och fördjupning i förhållande till andra kurser inom huvudområdet och examensfordringarna för generella examina:

    Grundnivå

    • G1N: har endast gymnasiala förkunskapskrav
    • G1F: har mindre än 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G1E: innehåller särskilt utformat examensarbete för högskoleexamen
    • G2F: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G2E: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav, innehåller examensarbete för kandidatexamen
    • GXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

    Avancerad nivå

    • A1N: har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • A1F: har kurs/er på avancerad nivå som förkunskapskrav
    • A1E: innehåller examensarbete för magisterexamen
    • A2E: innehåller examensarbete för masterexamen
    • AXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

  • Betygsskala: Underkänd (U), godkänd (3), icke utan beröm godkänd (4), med beröm godkänd (5)
  • Inrättad: 2021-03-02
  • Inrättad av: Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden
  • Reviderad: 2022-02-08
  • Reviderad av: Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden
  • Gäller från: HT 2022
  • Behörighet: 60 hp inom teknik/naturvetenskap. Kvantfysik eller Kvantmekanik och kemisk bindning II ska vara genomgångna.
  • Ansvarig institution: Institutionen för materialvetenskap

Mål

Kursens syfte är att introducera moderna ytkarakteriseringsmetoder vilka används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:

  • motivera och diskutera val av metod för ytkarakterisering genom att jämföra prestanda för och bedöma lämplighet av olika metoder utifrån en given frågeställning,
  • beskriva principerna, inklusive växelverkan mellan prob och provyta, för ytavbildning och profilmätning med elektron-, ljus-, interferens- och svepspetsmikroskop, samt beskriva konstruktionen av vissa instrument,
  • beskriva principerna för svepelektronmikroskopi (SEM) och röntgenspektroskopi (EDS) i SEM,
  • förklara och värdera resultat och kvalitet och beskriva inverkan av inställningar och prestanda hos instrumenten.

Innehåll

Avbildning, beskrivning och mätning av ytor. Metoder som behandlas är bl.a. svepelektronmikroskopi (SEM), röntgenspektroskopi i SEM (EDS), ljusmikroskopi (LOM), interferensmikroskopi (CSI), svepspetsmikroskopi (SPM), nålprofilometri och ytstatistik.

Undervisning

Föreläsningar, seminarier, laborationer.

Examination

Skriftlig tentamen (4 hp). Laborationer, övningar och uppgifter (1 hp).

Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en enskild student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning.

Övriga föreskrifter

Denna kurs kan inte ingå i examen tillsammans med 1TE013 Materialanalys.

Litteratur

Litteraturlista

Gäller från: HT 2022

I bibliotekets söktjänst kan du se om en titel finns elektroniskt.