Kursplan för Yt- och materialanalys

Surface and Materials Analysis

Kursplan

  • 5 högskolepoäng
  • Kurskod: 1TM146
  • Utbildningsnivå: Avancerad nivå
  • Huvudområde(n) och successiv fördjupning: Teknik A1N, Kemi A1N

    Förklaring av koder

    Koden visar kursens utbildningsnivå och fördjupning i förhållande till andra kurser inom huvudområdet och examensfordringarna för generella examina:

    Grundnivå

    • G1N: har endast gymnasiala förkunskapskrav
    • G1F: har mindre än 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G1E: innehåller särskilt utformat examensarbete för högskoleexamen
    • G2F: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G2E: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav, innehåller examensarbete för kandidatexamen
    • GXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

    Avancerad nivå

    • A1N: har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • A1F: har kurs/er på avancerad nivå som förkunskapskrav
    • A1E: innehåller examensarbete för magisterexamen
    • A2E: innehåller examensarbete för masterexamen
    • AXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

  • Betygsskala: Underkänd (U), godkänd (3), icke utan beröm godkänd (4), med beröm godkänd (5)
  • Inrättad: 2022-03-02
  • Inrättad av: Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden
  • Gäller från: HT 2022
  • Behörighet: 120 hp inom teknik/naturvetenskap, Genomgången kurs Ytavbildning. Engelska 6. (Med en svensk kandidatexamen uppfylls kravet på engelska.)
  • Ansvarig institution: Institutionen för materialvetenskap

Mål

Kursens syfte är att introducera moderna analysmetoder för yt- och materialkarakterisering, vilka används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:    

  • motivera och diskutera val av analysmetod genom att jämföra prestanda för, och bedöma lämplighet av, olika metoder utifrån en given frågeställning, 
  • kritiskt bedöma val av metod och slutsatser i vetenskapliga artiklar där metoder för avbildning och analys använts för att lösa specifika frågeställningar, 
  • beskriva principerna för ytanalys med ett antal metoder, inkluderande röntgen-, elektron-, jon-, vibrations- och optisk spektroskopi, samt beskriva konstruktionen av vissa instrument, 
  • förklara och jämföra möjlig information från, och prestanda för, olika metoder för ytanalys utifrån växelverkan mellan aktiverande strålning (t.ex. elektroner, joner, eller röntgen) och provyta och utifrån inställningar och prestanda hos instrumentet, 
  • beskriva principerna för djupprofilanalys med jonetsning/sputtering och för provpreparering med fokuserad jonstråle (FIB), 
  • beskriva principen för transmissionselektronmikroskopi (TEM), samt vilken typ av information och analysresultat denna metod kan ge.

Innehåll

Kemisk analys av ytor och djupprofiler: metoder som behandlas är bl.a. röntgenspektroskopi (XRF), elektronspektroskopi (ESCA/XPS, Auger), jonmasspektroskopi (SIMS, AP), jonstrålebaserad spektroskopi (RBS och ERDA), optisk spektroskopi (GD-OES) och vibrationsspektroskopi (Raman och IR). Introduktion till TEM för avbildning och analys av ett materials inre struktur, inklusive beskrivning av provpreparering och analys med EDS. Introduktion till FIB för provpreparering.

Undervisning

Föreläsningar, seminarier, inlämningsuppgifter, laborationer.

Examination

Skriftlig tentamen vid kursens slut (4 hp). Laborationer, seminarier och inlämningsuppgifter (1 hp).

Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en enskild student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning.

Övriga föreskrifter

Kursen kan inte ingå i examen tillsammans med 1TE013 Materialanalys.

Litteratur

Litteraturlista

Gäller från: HT 2022

I bibliotekets söktjänst kan du se om en titel finns elektroniskt.