Kursplan för Materialanalys

Materials Analysis

Det finns en senare version av kursplanen.

  • 5 högskolepoäng
  • Kurskod: 1KB239
  • Utbildningsnivå: Avancerad nivå
  • Huvudområde(n) och successiv fördjupning: Kemi A1F, Materialteknik A1F

    Förklaring av koder

    Koden visar kursens utbildningsnivå och fördjupning i förhållande till andra kurser inom huvudområdet och examensfordringarna för generella examina:

    Grundnivå

    • G1N: har endast gymnasiala förkunskapskrav
    • G1F: har mindre än 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G1E: innehåller särskilt utformat examensarbete för högskoleexamen
    • G2F: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G2E: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav, innehåller examensarbete för kandidatexamen
    • GXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

    Avancerad nivå

    • A1N: har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • A1F: har kurs/er på avancerad nivå som förkunskapskrav
    • A1E: innehåller examensarbete för magisterexamen
    • A2E: innehåller examensarbete för masterexamen
    • AXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

  • Betygsskala: Underkänd (U), godkänd (3), icke utan beröm godkänd (4), med beröm godkänd (5)
  • Inrättad: 2020-02-25
  • Inrättad av: Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden
  • Gäller från: HT 2020
  • Behörighet:

    Ytkarakterisering, 5 hp. Kvantfysik eller Kvantmekanik och kemisk bindning eller motsvarande. Engelska 6. (Med en svensk kandidatexamen uppfylls kravet på engelska.)

  • Ansvarig institution: Institutionen för kemi - Ångström

Mål

Kursens syfte är att introducera moderna analystekniker för materialkarakterisering, vilka används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:

  • beskriva principerna för materialanalys med ett antal metoder, inkluderande röntgen-, elektron-, och jonspektroskopi, termisk analys samt röntgendiffraktion,
  • i detalj redogöra för principen bakom röntgendiffraktion och, särskilt utifrån denna, tolka diffraktogram,
  • beskriva principen för transmissionselektronmikroskopi (TEM), samt vilken typ av information och analysresultat som denna metod kan ge,
  • motivera och diskutera val av metod för analys genom att jämföra prestanda för och bedöma lämplighet av olika metoder utifrån en given frågeställning,
  • kritiskt bedöma val av metod och slutsatser i vetenskapliga artiklar där metoder för materialanalys använts för att lösa specifika frågeställningar.

Innehåll

Röntgendiffraktion (XRD), inklusive en laboration. Röntgenfluorescens (XRF). Fotoelektronspektroskopi (ESCA XPS). Auger-spektroskopi (AES). Optisk spektroskopi (GDOES). Termisk analys (TG/DSC). Introduktion till transmissionselektromikroskopi (TEM), inklusive överblick av provpreparationsmetoder. Orientering om mer avancerade metoder som är baserade på fotoner, neutroner, eller jonstrålar (tex RBS och ERDA).

Undervisning

Föreläsningar, laborationer och seminarier

Examination

Skriftlig tentamen (3 hp), laborationer och seminarier (2 hp).

​Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning. SAMT på engelska.

Versioner av kursplanen

Litteratur

Uppgift om kurslitteratur saknas. Ta kontakt med ansvarig institution för mer information.

Skriv ut