Kursplan för Ytkarakterisering

Surface Characterisation

Det finns en senare version av kursplanen.

  • 5 högskolepoäng
  • Kurskod: 1TM111
  • Utbildningsnivå: Avancerad nivå
  • Huvudområde(n) och successiv fördjupning: Materialteknik A1N

    Förklaring av koder

    Koden visar kursens utbildningsnivå och fördjupning i förhållande till andra kurser inom huvudområdet och examensfordringarna för generella examina:

    Grundnivå

    • G1N: har endast gymnasiala förkunskapskrav
    • G1F: har mindre än 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G1E: innehåller särskilt utformat examensarbete för högskoleexamen
    • G2F: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • G2E: har minst 60 hp kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav, innehåller examensarbete för kandidatexamen
    • GXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

    Avancerad nivå

    • A1N: har endast kurs/er på grundnivå som förkunskapskrav
    • A1F: har kurs/er på avancerad nivå som förkunskapskrav
    • A1E: innehåller examensarbete för magisterexamen
    • A2E: innehåller examensarbete för masterexamen
    • AXX: kursens fördjupning kan inte klassificeras

  • Betygsskala: Underkänd (U), godkänd (3), icke utan beröm godkänd (4), med beröm godkänd (5)
  • Inrättad: 2020-02-25
  • Inrättad av: Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden
  • Gäller från: HT 2020
  • Behörighet: Examen på grundnivå om minst 180 hp inklusive 50 hp i materialteknik och materialvetenskap, varav minst 10 hp materialkemi, 10 hp tekniska material/konstruktionsmaterial och 5 hp materialfysik, samt 25 hp matematik. Engelska 6. (Med en svensk kandidatexamen uppfylls kravet på engelska.)
  • Ansvarig institution: Institutionen för materialvetenskap

Mål

Kursens syfte är att introducera moderna ytkarakteriseringsmetoder vilka används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:

  • motivera och diskutera val av metod för ytkarakterisering genom att jämföra prestanda för och bedöma lämplighet av olika metoder utifrån en given frågeställning,
  • beskriva principerna, inklusive växelverkan mellan prob och provyta, för ytavbildning och profilmätning med elektron-, ljus-, interferens- och svepspetsmikroskop, samt beskriva konstruktionen av vissa instrument,
  • beskriva principerna för svepelektronmikroskopi (SEM) och röntgenspektroskopi (EDS) i SEM,
  • beskriva principerna för hårdhetsmätning och nanoindentation,
  • förklara och värdera resultat och kvalitet och beskriva inverkan av inställningar och prestanda hos instrumenten.

Innehåll

Avbildning, beskrivning och mätning av ytor. Metoder som behandlas är bl.a. svepelektronmikroskopi (SEM), röntgenspektroskopi i SEM (EDS), ljusmikroskopi (LOM), interferensmikroskopi (CSI), svepspetsmikroskopi (AFM, etc), nålprofilometri, ytstatistik, hårdhetsmätning och nanoindentation.

Undervisning

Föreläsningar, seminarier, laborationer.

Examination

Skriftlig tentamen (4 hp). Laborationer, övningar och uppgifter(1 hp).

Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en enskild student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning.

Versioner av kursplanen

Litteratur

Uppgift om kurslitteratur saknas. Ta kontakt med ansvarig institution för mer information.