Röntgenlaboratoriet
Inom forskningsprogrammet Oorganisk kemi finns Sveriges mest välutrustade röntgenlaboratorium för pulver- och tunnfilmsdiffraktion.
Pulverdiffraktion används för fasanalys och strukturbestämning. Utrustning finns även för in-situ mätningar vid hög och låg temperatur.
Lågvinkeldiffraktion används för att förstärka intensiteten på ytskikt. Många tunna filmer innehåller textur och restspänning, det finns utrustning som ger hög intensitet vid dessa mätningar.
Även epitaxiella kan filmer karaktäriseras med avseende på cellparameterar och spänning med så kallad reciprocal space mappning.
Laboratoriet används som en gemensam resurs inom Ångströmlaboratoriet och är också öppet för externa användare. Vi kan även utföra uppdragsanalyser till företag / organisationer i begränsad omfattning.
Kontaktperson: Mikael Ottosson
Regler
för nyttjande av röntgenlaboratoriet
Timkostnader
för externa användare
Vår utrustning
Vi har 8 diffraktometrar och en röntgenfluorocens spektrometer.
Siemens D5000
Två Bragg-Brentano instrument för pulver/fasta material. Ett θ-2θ instrument med Göbelsspegel. Parallel-stråle optiken används huvudsakligen för lågvinkelmätningar av tunna filmer.
Bruker D8 Cu Kα1
Bruker D8 med Kaα1 monokromator och en Lynxeye positionskänslig detektor (PSD). Systemet används för högupplösande pulverdiffraktion. Förutom provväxlare finns det provsteg för hög och låg temperatur.
Bruker TwinTwin
Vårt nyaste system för pulverdiffraktion. Med Lynxeye XE PSD detektorn kan man göra mycket snabba mätningar med bra upplösning och låga bakgrunder. För effektivt utnyttjande finns en provväxlare som kan laddas med upptill 96 prover samtidigt.
Bruker Discover
Den nyaste tunnfilmsdiffraktometern med motoriserat provsteg. Systemet har en mycket snabb Lynxeye PDS detektor och moduloptik. Den huvudsakliga användningen är “fasmapping”, GIXRD och XRR.
Philips MRD
De mest avancerade systemen med stor flexibilitet för mätningar av tunna filmer. Nästan alla typer av mätningar kan göras, t.ex. GIXRD, XRR, Reciprocal space mappning (RSM), textur- och spänningsmätning.
XRF: Epsilon 3
Energidispersiv röntgenfluorescence spektrometer, EDXRF. Systemet används huvudsakligen för att mäta tjocklek och sammansättning på tunna filmer.
Kontakt
- Om du har frågor om röntgenlaboratoriet så är du välkommen att kontakta Mikael Ottosson, via e-post: mikael.ottosson@kemi.uu.se, eller telefon: 070-993 59 01.