Behörighetskrav

120 hp inom teknik/naturvetenskap, Materialkemi och genomgången kurs i Ytavbildning. Engelska 6. (Med en svensk kandidatexamen uppfylls kravet på engelska.)

Mål

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:    

• motivera och diskutera val av analysmetod genom att jämföra prestanda för, och bedöma lämplighet av, olika metoder utifrån en given frågeställning, 
• kritiskt bedöma val av metod och slutsatser i vetenskapliga artiklar där metoder för avbildning och analys använts för att lösa specifika frågeställningar, 
• beskriva principerna för ytanalys med ett antal metoder, inkluderande röntgen-, elektron-, jon-, vibrations- och optisk spektroskopi, samt beskriva konstruktionen av vissa instrument, 
• förklara och jämföra möjlig information från, och prestanda för, olika metoder för ytanalys utifrån växelverkan mellan aktiverande strålning (t.ex. elektroner, joner, eller röntgen) och provyta och utifrån inställningar och prestanda hos instrumentet, 
• beskriva principerna för djupprofilanalys med jonetsning/sputtering och för provpreparering med fokuserad jonstråle (FIB), 
• beskriva principen för transmissionselektronmikroskopi (TEM), samt vilken typ av information och analysresultat denna metod kan ge.

Innehåll

I kursen introduceras moderna metoder för yt- och materialkarakterisering. Kemisk analys av ytor och djupprofiler: metoder som behandlas är bl.a. röntgenspektroskopi (XRF), elektronspektroskopi (ESCA/XPS, Auger), jonmasspektroskopi (SIMS, AP), jonstrålebaserad spektroskopi (RBS och ERDA), optisk spektroskopi (GD-OES) och vibrationsspektroskopi (Raman och IR). Introduktion till TEM för avbildning och analys av ett materials inre struktur, inklusive beskrivning av provpreparering och analys med EDS. Introduktion till FIB för provpreparering. Ingående metoder används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.

Undervisning

Föreläsningar, seminarier, inlämningsuppgifter, laborationer.

Examination

Skriftlig tentamen (4 hp). Laborationer, seminarier och inlämningsuppgifter (1 hp).

Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en enskild student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning.

Övriga föreskrifter

Kursen kan inte ingå i examen tillsammans med 1TE013 Materialanalys.