Behörighetskrav

120 hp inom teknik/naturvetenskap. Antingen: Fasta tillståndets fysik I, Ytavbildning, samt Yt- och materialanalys; eller: Introduktion till materialteknik och Ytkarakterisering samt genomgången Materialanalys. Engelska 6. (Med en svensk kandidatexamen uppfylls kravet på engelska.)

Mål

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:

• planera och realisera en god analysstrategi för prov,
• kritiskt utvärdera resultatet av utförd analys,
• jämföra och ranka olika teknikers användbarhet för ett givet problem,
• söka och bedöma relevanta artiklar för att förfina analysstrategin,
• föra djupgående diskussioner om, och planera analysstrategi för, mikroskopi-, spektroskopi- och diffraktionstekniker,
• förklara principen bakom viktiga analysinstrument som behandlas i kursen (TEM, SEM och spektrometrar för bl.a. elektronspektroskopi).

Innehåll

Kursen syftar till att studenten skall kunna bidra till förbättring av material, med avseende på egenskaper, syntesmetoder och tillämpbarhet, med hjälp av avancerade analysmetoder. Fördjupning i mikroskopiska och spektroskopiska tekniker för materialanalys. Diffraktionstekniker. Röntgen- och elektronspektroskopiska tekniker, avbildande metoder som högupplösande transmissionselektronmikroskopi, och elektrondiffraktion.

Undervisning

Föreläsningar samt projektarbete i grupp med laborativa inslag.

Examination

Muntlig tentamen (3 hp). Skriftlig och muntlig redovisning av projektuppgifter (2 hp).

Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en enskild student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning.