Behörighetskrav

Ytkarakterisering, 5 hp. Kvantfysik eller Kvantmekanik och kemisk bindning eller motsvarande. Engelska 6. (Med en svensk kandidatexamen uppfylls kravet på engelska.)

Mål

Kursens syfte är att introducera moderna analystekniker för materialkarakterisering, vilka används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.

Efter godkänd kurs ska studenten kunna:

• beskriva principerna för materialanalys med ett antal metoder, inkluderande röntgen-, elektron-, och jonspektroskopi, termisk analys samt röntgendiffraktion,
• i detalj redogöra för principen bakom röntgendiffraktion och, särskilt utifrån denna, tolka diffraktogram,
• beskriva principen för transmissionselektronmikroskopi (TEM), samt vilken typ av information och analysresultat som denna metod kan ge,
• motivera och diskutera val av metod för analys genom att jämföra prestanda för och bedöma lämplighet av olika metoder utifrån en given frågeställning,
• kritiskt bedöma val av metod och slutsatser i vetenskapliga artiklar där metoder för materialanalys använts för att lösa specifika frågeställningar.

Innehåll

Röntgendiffraktion (XRD), inklusive en laboration. Röntgenfluorescens (XRF). Fotoelektronspektroskopi (ESCA XPS). Auger-spektroskopi (AES). Optisk spektroskopi (GDOES). Termisk analys (TG/DSC). Introduktion till transmissionselektromikroskopi (TEM), inklusive överblick av provpreparationsmetoder. Orientering om mer avancerade metoder som är baserade på fotoner, neutroner, eller jonstrålar (tex RBS och ERDA).

Undervisning

Föreläsningar, laborationer och seminarier

Examination

Skriftlig tentamen (3 hp), laborationer och seminarier (2 hp).

​Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning. SAMT på engelska.