Ytavbildning
Kursplan, Grundnivå, 1TM144
- Kod
- 1TM144
- Utbildningsnivå
- Grundnivå
- Huvudområde(n) med fördjupning
- Kemi G2F, Teknik G2F
- Betygsskala
- Med beröm godkänd (5), Icke utan beröm godkänd (4), Godkänd (3), Underkänd (U)
- Fastställd av
- Teknisk-naturvetenskapliga fakultetsnämnden, 2 mars 2021
- Ansvarig institution
- Institutionen för materialvetenskap
Behörighetskrav
60 hp inom teknik/naturvetenskap. Kvantfysik eller Kvantmekanik och kemisk bindning II ska vara genomgångna.
Mål
Kursens syfte är att introducera moderna ytkarakteriseringsmetoder vilka används inom både akademisk och industriell forskning och utveckling.
Efter godkänd kurs ska studenten kunna:
- motivera och diskutera val av metod för ytkarakterisering genom att jämföra prestanda för och bedöma lämplighet av olika metoder utifrån en given frågeställning,
- beskriva principerna, inklusive växelverkan mellan prob och provyta, för ytavbildning och profilmätning med elektron-, ljus-, interferens- och svepspetsmikroskop, samt beskriva konstruktionen av vissa instrument,
- beskriva principerna för svepelektronmikroskopi (SEM) och röntgenspektroskopi (EDS) i SEM,
- förklara och värdera resultat och kvalitet och beskriva inverkan av inställningar och prestanda hos instrumenten.
Innehåll
Avbildning, beskrivning och mätning av ytor. Metoder som behandlas är bl.a. svepelektronmikroskopi (SEM), röntgenspektroskopi i SEM (EDS), ljusmikroskopi (LOM), interferensmikroskopi (CSI), svepspetsmikroskopi (SPM), nålprofilometri och ytstatistik.
Undervisning
Föreläsningar, seminarier, laborationer.
Examination
Skriftlig tentamen (4 hp). Laborationer, övningar och uppgifter (1 hp).
Om särskilda skäl finns får examinator göra undantag från det angivna examinationssättet och medge att en enskild student examineras på annat sätt. Särskilda skäl kan t.ex. vara besked om särskilt pedagogiskt stöd från universitetets samordnare för studenter med funktionsnedsättning.